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元素含量檢測(cè)儀是環(huán)境監(jiān)測(cè)、礦產(chǎn)勘探、金屬冶煉、食品質(zhì)檢及RoHS合規(guī)檢測(cè)中重要的分析工具。其核心價(jià)值在于快速、準(zhǔn)確測(cè)定樣品中主量、微量乃至痕量元素。然而在實(shí)際使用中,可能會(huì)因樣品制備不當(dāng)、儀器校準(zhǔn)缺失、光路污染或氣體/電源波動(dòng),導(dǎo)致結(jié)果漂移、靈敏度下降、重復(fù)性差甚至誤判。快速識(shí)別元素含量檢測(cè)儀問(wèn)題根源并科學(xué)干預(yù),才能確保測(cè)得準(zhǔn)、報(bào)得穩(wěn)、用得久。一、檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性差或精密度低原因分析:樣品不均勻(如粉末未壓片、液體未混勻);進(jìn)樣系統(tǒng)堵塞(ICP霧化器、AAS毛細(xì)管);光源或檢測(cè)...
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原子吸收分光光度計(jì)雖然使用廣泛,測(cè)量,但是要想讓它正常進(jìn)行工作就要平時(shí)能科學(xué)的維護(hù)它,那么平時(shí)怎么維護(hù)才好呢?就請(qǐng)大家認(rèn)真閱讀下文。維護(hù)方法一:需要注意紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)儲(chǔ)存的濕度和溫度。大家知道溫度和濕度對(duì)設(shè)備性能影響非常大的,當(dāng)溫度和濕度不適合,極易引起設(shè)備機(jī)械部件的銹蝕,甚至還會(huì)讓金屬鏡面的光潔度下降,這就導(dǎo)致儀器機(jī)械部分的性能下降,進(jìn)而還會(huì)影響設(shè)備的壽命,因此能注意溫度和濕度合理儲(chǔ)存就可延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命了。維護(hù)方法二:需定時(shí)清潔設(shè)備內(nèi)和儲(chǔ)存環(huán)境的塵埃。很多時(shí)候塵埃會(huì)影...
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電鍍膜厚檢測(cè)儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。電鍍膜厚檢測(cè)儀的相關(guān)工作原理之近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制丈量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)目級(jí))。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)磁感應(yīng)測(cè)厚...
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電鍍膜厚檢測(cè)儀屬于一種常見(jiàn)的薄膜厚度測(cè)量?jī)x器,在日常生活以及工業(yè)制造中都可以看見(jiàn)它的身影,但是市場(chǎng)中測(cè)量?jī)x有著很多的分類(lèi),我們有著多少了解呢?電鍍膜厚檢測(cè)儀在使用時(shí)我們又該注意哪些事項(xiàng)呢?測(cè)量?jī)x分類(lèi)1、激光測(cè)厚儀激光測(cè)厚儀是才采用了激光反射原理制造而成,屬于一種非接觸式的厚度測(cè)量?jī)x器,主要用來(lái)對(duì)各種零件以及機(jī)械表面的進(jìn)行微觀測(cè)量,從而得出物件的厚度。并且該種測(cè)量?jī)x能夠與電腦終端相連接,直接將物體的厚度以數(shù)字形式進(jìn)行輸出,簡(jiǎn)便快捷,適用性,在各行業(yè)都可以看見(jiàn)它的身影。2、X射線...
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在原子吸收分光光度計(jì)中,波長(zhǎng)重復(fù)性對(duì)光度準(zhǔn)確度的影響是很大的,在紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)中的使用過(guò)程中,如果選擇試樣的大吸收峰作為測(cè)試波長(zhǎng),則在重新設(shè)定該波長(zhǎng)時(shí)產(chǎn)生的微笑波長(zhǎng)差對(duì)光度準(zhǔn)確度測(cè)量的結(jié)果影響不大,但如果不是選擇被測(cè)試樣的大吸收波長(zhǎng)作為測(cè)試波長(zhǎng),而是選擇大吸收波長(zhǎng)兩側(cè)的波長(zhǎng)作為測(cè)試波長(zhǎng),則表面上同樣大小的波長(zhǎng)誤會(huì)會(huì)產(chǎn)生很大的光度準(zhǔn)確度測(cè)量誤差,在要求精度測(cè)量時(shí),為了得到更好的光度準(zhǔn)確度,一定要注意選用波長(zhǎng)重復(fù)性好的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)儀器,在分析過(guò)程中;特別要注意選擇試樣的...
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現(xiàn)代化社會(huì)發(fā)展過(guò)程中,科學(xué)技術(shù)在不斷的發(fā)展和進(jìn)步,從而促進(jìn)我國(guó)各行業(yè)的快速發(fā)展,在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中,各種測(cè)量?jī)x的使用,不僅提了生產(chǎn)效率,也保證了產(chǎn)品的整體質(zhì)量,那么使用過(guò)程中該如何保證膜厚檢測(cè)儀使用質(zhì)量呢?在選擇的時(shí)候需要掌握哪些條件?我們看詳細(xì)介紹。膜厚檢測(cè)儀使用質(zhì)量的方法:想要保證設(shè)備的使用質(zhì)量,不僅要在選擇的時(shí)候保證其質(zhì)量,還要在使用的時(shí)候注意操作規(guī)范,專(zhuān)業(yè)的使用人員一定要保證操作的準(zhǔn)確性,在操作的過(guò)程當(dāng)中一定要注意對(duì)儀器的及時(shí)保養(yǎng)。使用設(shè)備的時(shí)候要注意每天開(kāi)機(jī)之后,要...
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鹵素Halogen(鹵素)是第ⅦA族非金屬元素,包括了氟(Fluorine-)、氯(Chlorine)、溴(Bromine)、碘(Iodine)和砹(Astatine)五種元素,合稱(chēng)鹵素。其中砹(Astatine)為放射性元素,人們通常所指的鹵素是氟、氯、溴、碘四種元素。鹵素化合物經(jīng)常作為一種阻燃劑:PBB,PBDE,TBBP-A,PCB,六溴十二烷,三溴苯酚,短鏈氯化石蠟等,應(yīng)用于電子零組件與材料、產(chǎn)品外殼、塑膠等。此種阻燃劑無(wú)法回收使用,而且在燃燒與加熱過(guò)程中會(huì)釋放有害物...
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1.RoHS指令介紹:歐盟于2003年1月27日正式公布了《報(bào)廢電子電器設(shè)備指令》(WEEE2002/96/EC)和《關(guān)于在電子電氣設(shè)備中禁止使用某些有害物質(zhì)指令》(RoHS-2002/95/EC).指令要求于2006年7月1日起,禁止在歐盟市場(chǎng)銷(xiāo)售含有鉛、、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯及多溴聯(lián)苯醚六種有害物質(zhì)的電子電氣設(shè)備。至今,歐盟共頒布了29項(xiàng)豁免條例。2.RoHS產(chǎn)品范圍:1).大型家用電器2).小型家用電器3).信息與通訊設(shè)備4).消費(fèi)性設(shè)備5).照明設(shè)備6).電子與電氣工...
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一、鎘的法規(guī)要求:⒈歐盟:ROHS,91/338/EEC,94/62/EC,76/769/EECLimit=100ppm瑞典:Limit=75ppm(mg/Kg)丹麥:Limit=75ppm(mg/Kg)瑞士:Limit=100ppm(mg/Kg)荷蘭:Limit=100ppm(mg/Kg)⒉ROHS豁免項(xiàng):除了91/338/EEC禁止使用的產(chǎn)品除外,生產(chǎn)設(shè)備、機(jī)器等產(chǎn)品的電鍍鎘可以豁免。二.鉛的法規(guī)要求:⒈歐盟:76/769/EEC,89/677/EEC:禁止使用94/62...
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ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類(lèi),波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過(guò)測(cè)定角度,即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng):nλ=2dsinaθ(n=1,2,...
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膜厚檢測(cè)儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。膜厚檢測(cè)儀,是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱(chēng)為二次熒光,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。膜厚檢測(cè)儀采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的...
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